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tm - Technisches Messen

Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik

[TM - Technical Measurement: A Platform for Methods, Systems, and Applications of Measurement Technology
]

Editor-in-Chief: Puente León, Fernando / Zagar, Bernhard


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2196-7113
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Empfindliches Messen partieller Kohärenz mit Pinhole-Array

Paul Petruck* / Rainer Riesenberg1 / Richard Kowarschik2

1 Institut für Photonische Technologien e. V., Jena

2 Friedrich-Schiller-Universität Jena, Physikalisch-Astronomische Fakultät, Jena, Deutschland

* Correspondence address: Institut für Photonische Technologien e. V., Albert-Einstein-Str. 9, 07745 Jena,

Citation Information: tm - Technisches Messen Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik. Volume 77, Issue 9, Pages 473–478, ISSN (Print) 0171-8096, DOI: 10.1524/teme.2010.0028, September 2010

Publication History

Published Online:
2010-09-09

Zusammenfassung

Interferometrische Mess- und Abbildungsverfahren sind häufig durch kohärentes Rauschen begrenzt. Eine Anpassung des Kohärenzvolumens an die Messbedingungen kann das Rauschen verringern. Für die holografische Mikroskopie müssen Kohärenzparameter im Mikrometerbereich eingestellt und gemessen werden. Das klassische Young´sche Doppelspalt-Interferometer ist dabei oft zu unempfindlich. Ein erweitertes Array-Interferometer liefert deutlich empfindlichere Messungen für die Bestimmung der Kohärenzfläche.

Abstract

Interferometric measurement and imaging techniques are often impaired by coherent noise. An adjustment of the volume of coherence can be adjuvant. For holographic microscopy the coherence parameters have to be adapted and measured in micrometer scale. The classic Young´s double-pinhole interferometer´s sensitivity is often too low for this case. An extended array interferometer is presented here, which allows for more sensitive measurements for the determination of the area of coherence.

Keywords: partial coherence; spatial coherence; interference technique; array interferometer

Citing Articles

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[1]
Paul Petruck, Rainer Riesenberg, and Richard Kowarschik
Applied Optics, 2012, Volume 51, Number 13, Page 2333
[2]
P. Petruck, R. Riesenberg, and R. Kowarschik
Applied Physics B, 2012, Volume 106, Number 2, Page 339
[3]
P. Petruck, R. Riesenberg, U. Hübner, and R. Kowarschik
Optics Communications, 2012, Volume 285, Number 4, Page 389

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