Accessible Requires Authentication Published by De Gruyter May 8, 2021

Über die Anwendung von Halbleiterdetektoren zur röntgenspektrometrischen Analyse / Application of semiconductor detectors in X-ray spectrometrical analysis / L’emploi de semi-conducteurs comme détecteurs pour l’analyse spectrométrique par rayons X

Hermann Josef Kopineck, Wilhelm Tappe and Klaus Stock
From the journal Materials Testing