Accessible Requires Authentication Published by De Gruyter May 8, 2021

Untersuchung der Nickelbasislegierung Inconel 7383 _ mit dem Rasterelektronenmikroskop und der Mikrosonde / Investigation of Inconel 738 with the Scanning Electron Microscope (SEM) and the Electron Beam Analyser / Etude de Inconel 738 avec le microscope électronique à balayage et la microsonde électronique

Heinz Krapp and Erk-Uwe Schwarzer
From the journal Materials Testing