Harbich, Karl-Wolfram, Schors, Jörg V., Lange, Axel, Ekenhorst, Derk, Harwardt, Michael and Hentschel, Manfred P.. "Röntgen-Refraktion von Werkstoffen: Zerstörungsfreie Charakterisierung von Mikro-Grenzflächen. Professor Gerhard W. Becker und Professor Horst Czichos zum Geburtstag gewidmet"
Materials Testing, vol. 39, no. 7-8, 1997, pp. 302-307.
https://doi.org/10.1515/mt-1997-397-809Harbich, K., Schors, J., Lange, A., Ekenhorst, D., Harwardt, M. & Hentschel, M. (1997). Röntgen-Refraktion von Werkstoffen: Zerstörungsfreie Charakterisierung von Mikro-Grenzflächen. Professor Gerhard W. Becker und Professor Horst Czichos zum Geburtstag gewidmet.
Materials Testing,
39(7-8), 302-307.
https://doi.org/10.1515/mt-1997-397-809Harbich, K., Schors, J., Lange, A., Ekenhorst, D., Harwardt, M. and Hentschel, M. (1997) Röntgen-Refraktion von Werkstoffen: Zerstörungsfreie Charakterisierung von Mikro-Grenzflächen. Professor Gerhard W. Becker und Professor Horst Czichos zum Geburtstag gewidmet. Materials Testing, Vol. 39 (Issue 7-8), pp. 302-307.
https://doi.org/10.1515/mt-1997-397-809Harbich, Karl-Wolfram, Schors, Jörg V., Lange, Axel, Ekenhorst, Derk, Harwardt, Michael and Hentschel, Manfred P.. "Röntgen-Refraktion von Werkstoffen: Zerstörungsfreie Charakterisierung von Mikro-Grenzflächen. Professor Gerhard W. Becker und Professor Horst Czichos zum Geburtstag gewidmet"
Materials Testing 39, no. 7-8 (1997): 302-307.
https://doi.org/10.1515/mt-1997-397-809Harbich K, Schors J, Lange A, Ekenhorst D, Harwardt M, Hentschel M. Röntgen-Refraktion von Werkstoffen: Zerstörungsfreie Charakterisierung von Mikro-Grenzflächen. Professor Gerhard W. Becker und Professor Horst Czichos zum Geburtstag gewidmet.
Materials Testing. 1997;39(7-8): 302-307.
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