Schwarze, D., Klabbers, J. and Schubert, F.. "Risswachstum markieren: Untersuchungen an Nickel-Legierungen bei 500 und 750°C"
Materials Testing, vol. 42, no. 9, 2000, pp. 340-348.
https://doi.org/10.1515/mt-2000-420908
Schwarze, D., Klabbers, J. & Schubert, F. (2000). Risswachstum markieren: Untersuchungen an Nickel-Legierungen bei 500 und 750°C.
Materials Testing,
42(9), 340-348.
https://doi.org/10.1515/mt-2000-420908
Schwarze, D., Klabbers, J. and Schubert, F. (2000) Risswachstum markieren: Untersuchungen an Nickel-Legierungen bei 500 und 750°C. Materials Testing, Vol. 42 (Issue 9), pp. 340-348.
https://doi.org/10.1515/mt-2000-420908
Schwarze, D., Klabbers, J. and Schubert, F.. "Risswachstum markieren: Untersuchungen an Nickel-Legierungen bei 500 und 750°C"
Materials Testing 42, no. 9 (2000): 340-348.
https://doi.org/10.1515/mt-2000-420908
Schwarze D, Klabbers J, Schubert F. Risswachstum markieren: Untersuchungen an Nickel-Legierungen bei 500 und 750°C.
Materials Testing. 2000;42(9): 340-348.
https://doi.org/10.1515/mt-2000-420908
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