Accessible Requires Authentication Published by De Gruyter May 27, 2021

Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results

Carsten Siemers, Debashis Mukherji, Christa Grusewski, Martin Bäker and Joachim Rösler
From the journal Practical Metallography