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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by De Gruyter December 8, 2020

Künstliche Intelligenz in optischen Mess- und Prüfsystemen

Chance oder Hype?

  • Erik Marquardt

Abstract

Bildverarbeitungssysteme sind in Geräten und Anlagen der Mess- und Automatisierungstechnik weit verbreitet. Nun werden immer mehr Bildverarbeitungssysteme mit KI, konkret mit künstlichen neuronalen Netzen, ausgestattet. Werden diese Systeme die Bildverarbeitungswelt auf den Kopf stellen? Oder ist KI in optischen Mess- und Prüfsystemen ein Hype-Thema, das bald wieder vergessen ist? In diesem Beitrag stellen wir die Konzepte der klassischen Bildverarbeitung und der KI-basierten Systeme gegenüber, diskutieren die jeweiligen Stärken und Schwächen und arbeiten die Chancen heraus, die sich dadurch ergeben.

Online erschienen: 2020-12-08
Erschienen im Druck: 2020-10-01

© 2020 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

Downloaded on 6.2.2023 from https://www.degruyter.com/document/doi/10.1515/zwf-2020-1151019/html
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