Accessible Requires Authentication Published by De Gruyter Oldenbourg September 25, 2009

DFG-Projekt RealTest – Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme (DFG-Project – Test and Reliability of Nano-Electronic Systems)

Bernd Becker, Ilia Polian, Sybille Hellebrand, Bernd Straube and Hans-Joachim Wunderlich

Entwurf, Verifikation und Test zuverlässiger nanoelektronischer Systeme erfordern grundlegend neue Methoden und Ansätze. Ein robuster Entwurf wird unabdingbar, um Fertigungsfehler, Parameterschwankungen, zeitabhängige Materialveränderungen und vorübergehende Störungen in gewissem Umfang zu tolerieren. Gleichzeitig verlieren gerade dadurch viele traditionelle Testverfahren ihre Aussagekraft. Im Rahmen des Projekts RealTest werden einheitliche Entwurfs- und Teststrategien entwickelt, die sowohl einen robusten Entwurf als auch eine darauf abgestimmte Qualitätssicherung unterstützen.

The increasing number of fabrication defects, spatial and temporal variability of parameters, as well as the growing impact of soft errors in nanoelectronic systems require a paradigm shift in design, verification and test. A robust design is mandatory to ensure dependable systems and acceptable yields. The quest for design robustness, however, invalidates many traditional approaches for testing and implies enormous challenges. Within the framework of the RealTest project unified design and test strategies are developed to support a robust design and a coordinated quality assurance after the production and during the lifetime of a system.

Published Online: 2009-9-25
Published in Print: 2006-10-1

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