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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by Oldenbourg Wissenschaftsverlag February 1, 1985

Veranstaltungskalender / Meetings to come

From the journal tm - Technisches Messen
https://doi.org/10.1524/teme.1985.52.2.88
Online erschienen: 1985-02
Erschienen im Druck: 1985-02

© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München

From the journal
tm - Technisches Messen
tm - Technisches Messen
Volume 52 Issue 2
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Journal and Issue

Articles in the same Issue

Inhalt / Contents
Impressum
Aufsätze
Entwicklung chemischer Sensoren: Empirische Kunst oder systematische Forschung? / Development of chemical sensors: empirical art or systematic research?
Gassensoren auf der Basis von Metalloxid-Halbleitern / Gas sensors on the basis of metal oxide semiconductors
Hinweise für Autoren
Automatische Erkennung von Oberflächenfehlern mit Methoden der Bildverarbeitung / Automatic inspection of surface defects using image processing techniques
Notizen
Charakterisierung technischer Oberflächen für die mittelständische Industrie
Aufsätze
Rauheitsmessung mittels Lichtstreuung / Measurement of surface roughness by light scattering method
tm-Gastvorlesung / tm Tutorial
Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung
Produktinformationen / Product information
Veranstaltungskalender / Meetings to come
Downloaded on 1.12.2023 from https://www.degruyter.com/document/doi/10.1524/teme.1985.52.2.88/html
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