Nawrath, R. and Paul, H.-H.. "2D-Koordinatenmeßtechnik für Mikron-Strukturen auf Halbleiter-Masken / Submicron metrology for masks"
tm - Technisches Messen, vol. 55, no. JG, 1988, pp. 341-345.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.341
Nawrath, R. & Paul, H. (1988). 2D-Koordinatenmeßtechnik für Mikron-Strukturen auf Halbleiter-Masken / Submicron metrology for masks.
tm - Technisches Messen,
55(JG), 341-345.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.341
Nawrath, R. and Paul, H. (1988) 2D-Koordinatenmeßtechnik für Mikron-Strukturen auf Halbleiter-Masken / Submicron metrology for masks. tm - Technisches Messen, Vol. 55 (Issue JG), pp. 341-345.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.341
Nawrath, R. and Paul, H.-H.. "2D-Koordinatenmeßtechnik für Mikron-Strukturen auf Halbleiter-Masken / Submicron metrology for masks"
tm - Technisches Messen 55, no. JG (1988): 341-345.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.341
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