Schwiecker, H., Hammann, K.-H. and Schneider, U.. "Ellipsometrische In-situ-Kontrolle für Dünnschicht-Prozesse / Ellipsometric measurement methods for thin film technology"
tm - Technisches Messen, vol. 55, no. JG, 1988, pp. 346-351.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.346
Schwiecker, H., Hammann, K. & Schneider, U. (1988). Ellipsometrische In-situ-Kontrolle für Dünnschicht-Prozesse / Ellipsometric measurement methods for thin film technology.
tm - Technisches Messen,
55(JG), 346-351.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.346
Schwiecker, H., Hammann, K. and Schneider, U. (1988) Ellipsometrische In-situ-Kontrolle für Dünnschicht-Prozesse / Ellipsometric measurement methods for thin film technology. tm - Technisches Messen, Vol. 55 (Issue JG), pp. 346-351.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.346
Schwiecker, H., Hammann, K.-H. and Schneider, U.. "Ellipsometrische In-situ-Kontrolle für Dünnschicht-Prozesse / Ellipsometric measurement methods for thin film technology"
tm - Technisches Messen 55, no. JG (1988): 346-351.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.346
Schwiecker H, Hammann K, Schneider U. Ellipsometrische In-situ-Kontrolle für Dünnschicht-Prozesse / Ellipsometric measurement methods for thin film technology.
tm - Technisches Messen. 1988;55(JG): 346-351.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.346
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