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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by Oldenbourg Wissenschaftsverlag December 1, 1988

Ellipsometrische In-situ-Kontrolle für Dünnschicht-Prozesse / Ellipsometric measurement methods for thin film technology

  • H. Schwiecker , K.-H. Hammann and U. Schneider
From the journal tm - Technisches Messen
Online erschienen: 1988-12
Erschienen im Druck: 1988-12

© 2014 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München

Downloaded on 4.10.2023 from https://www.degruyter.com/document/doi/10.1524/teme.1988.55.jg.346/html
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