Wilmers, M.. "Elektronenbeugungs- Reflexprofilanalyse - eine neue Methode zur Untersuchung von Kristalloberflächen / Spot profile analysis of low energy electron diffraction - a novel method for the study of crystal surfaces"
tm - Technisches Messen, vol. 55, no. JG, 1988, pp. 39-43.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.39
Wilmers, M. (1988). Elektronenbeugungs- Reflexprofilanalyse - eine neue Methode zur Untersuchung von Kristalloberflächen / Spot profile analysis of low energy electron diffraction - a novel method for the study of crystal surfaces.
tm - Technisches Messen,
55(JG), 39-43.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.39
Wilmers, M. (1988) Elektronenbeugungs- Reflexprofilanalyse - eine neue Methode zur Untersuchung von Kristalloberflächen / Spot profile analysis of low energy electron diffraction - a novel method for the study of crystal surfaces. tm - Technisches Messen, Vol. 55 (Issue JG), pp. 39-43.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.39
Wilmers, M.. "Elektronenbeugungs- Reflexprofilanalyse - eine neue Methode zur Untersuchung von Kristalloberflächen / Spot profile analysis of low energy electron diffraction - a novel method for the study of crystal surfaces"
tm - Technisches Messen 55, no. JG (1988): 39-43.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.39
Wilmers M. Elektronenbeugungs- Reflexprofilanalyse - eine neue Methode zur Untersuchung von Kristalloberflächen / Spot profile analysis of low energy electron diffraction - a novel method for the study of crystal surfaces.
tm - Technisches Messen. 1988;55(JG): 39-43.
https://doi.org/10.1524/teme.1988.55.jg.39
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