Möglichkeiten zur Verbesserung der Genauigkeit optoelektronischer Meß- und Positioniersysteme/ Possibilities for the improvement of accuracy of opto-electronical measuring systems

J. Heberling; Μ. Heider

doi:10.1524/teme.1992.59.11.454

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Heberling, J. and Heider, Μ.. "Möglichkeiten zur Verbesserung der Genauigkeit optoelektronischer Meß- und Positioniersysteme/ Possibilities for the improvement of accuracy of opto-electronical measuring systems" tm - Technisches Messen, vol. 59, no. 11, 1992, pp. 454-458. https://doi.org/10.1524/teme.1992.59.11.454

Heberling, J. & Heider, Μ. (1992). Möglichkeiten zur Verbesserung der Genauigkeit optoelektronischer Meß- und Positioniersysteme/ Possibilities for the improvement of accuracy of opto-electronical measuring systems. tm - Technisches Messen, 59(11), 454-458. https://doi.org/10.1524/teme.1992.59.11.454

Heberling, J. and Heider, Μ. (1992) Möglichkeiten zur Verbesserung der Genauigkeit optoelektronischer Meß- und Positioniersysteme/ Possibilities for the improvement of accuracy of opto-electronical measuring systems. tm - Technisches Messen, Vol. 59 (Issue 11), pp. 454-458. https://doi.org/10.1524/teme.1992.59.11.454

Heberling, J. and Heider, Μ.. "Möglichkeiten zur Verbesserung der Genauigkeit optoelektronischer Meß- und Positioniersysteme/ Possibilities for the improvement of accuracy of opto-electronical measuring systems" tm - Technisches Messen 59, no. 11 (1992): 454-458. https://doi.org/10.1524/teme.1992.59.11.454

Heberling J, Heider Μ. Möglichkeiten zur Verbesserung der Genauigkeit optoelektronischer Meß- und Positioniersysteme/ Possibilities for the improvement of accuracy of opto-electronical measuring systems. tm - Technisches Messen. 1992;59(11): 454-458. https://doi.org/10.1524/teme.1992.59.11.454

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