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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by Oldenbourg Wissenschaftsverlag November 1, 1999

Analyse dynamischer Vorgänge an technischen Oberflächen mit Speckle-Korrelation / Analysis of Surface Processes by Means of Speckle-Correlation

  • Thomas Fricke-Begemann , Gerd Gülker , Klaus D. Hinsch and Karin Wolff
From the journal tm - Technisches Messen
https://doi.org/10.1524/teme.1999.66.11.463
Online erschienen: 1999-11
Erschienen im Druck: 1999-11

© 2013 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München

From the journal
tm - Technisches Messen
tm - Technisches Messen
Volume 66 Issue 11

Journal and Issue

Articles in the same Issue

Inhalt
IMPRESSUM
EDITORIAL: Analyse und Modellierung technischer Oberflächen mit kombinativer Lasermeßtechnik / Analysis and Modeling of Technical Surfaces with Combinative Laser Metrology
Hochauflösende Vermessung ausgedehnter technischer Oberflächen mit skalierbarer Topometrie / Highly-Resolved Measurement of Extended Technical Surfaces with Scalable Topometry
Messung und Beschreibung von Mikrostrukturen unter Berücksichtigung materialspezifischer Eigenschaften / Measurement and Description of Microstructures with Consideration of Material-Specific Characteristics
Hochauflösende Topometrie im Kontext globaler Makrostrukturen / High Resolution Topometry in Conjunction with Macro Structures
Hochpräzise optische Profilometrie an Proben mit variierenden Materialien / High-Precision Optical Profilometry at Surfaces with Varying Materials
Präzise Strukturmeßtechnik mit lasergestützter Mikroellipsometrie / Precise Structure Measurement using Laser-Based Microellipsometry
Analyse dynamischer Vorgänge an technischen Oberflächen mit Speckle-Korrelation / Analysis of Surface Processes by Means of Speckle-Correlation
LITERATUR. PRODUKTINFORMATIONEN
VERANSTALTUNGSKALENDER
Downloaded on 9.2.2023 from https://www.degruyter.com/document/doi/10.1524/teme.1999.66.11.463/html
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