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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by Oldenbourg Wissenschaftsverlag August 1, 1999

In-process-Charakterisierung von Mikrotopographien technischer Oberflächen durch polychromatische Speckleautokorrelation / In-process Characterization of Microtopographies of Engineering Surfaces Using Polychromatic Speckje Autocorrelation

P. Lehmann , S. Patzelt and A. Ciossek
From the journal tm - Technisches Messen
Online erschienen: 1999-08
Erschienen im Druck: 1999-08

© 2013 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH, Rosenheimer Str. 145, 81671 München

Downloaded on 5.12.2022 from frontend.live.degruyter.dgbricks.com/document/doi/10.1524/teme.1999.66.78.269/html
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