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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by Oldenbourg Wissenschaftsverlag November 6, 2012

Digital-holographischer Mehrwellenlängensensor HoloTop zur 100-Prozent-Kontrolle von Oberflächen

Digital Holographic Multiwavelength Sensor HoloTop for 100 Percent Inspection of Surfaces
Daniel Carl , Markus Fratz , Dominik M. Giel and Heinrich Höfler
From the journal tm - Technisches Messen

Zusammenfassung

Das digital-holographische Verfahren ermöglicht erstmals die 3D-Vermessung auch rauer Oberflächen. Möglich wird dies durch die Überlagerung der Laserstrahlen bei der Mehrwellenlängenholographie. Dabei wird aus mehreren Interferogrammen ein topographisches Abbild numerisch berechnet. Innerhalb einer Sekunde vermisst das System eine Fläche von 20 mm×20 mm mikrometergenau und eignet sich dadurch besonders für die Inline-Inspektion von Bauteilen.

Abstract

For the first time digital holography allows the 3D-measurement of even rough surfaces. This is made possible by the superposition of laser beams in Digital Multiwavelength Holography. For that a 3D topographic image is numerically calculated from several interferograms. The system “HoloTop” detects microstructures over an area of 20 mm×20 mm within one second only, thus making it suitable for a 100% inspection directly in the production line.


* Correspondence address: Fraunhofer IPM, Abteilung Optische Fertigungsmesstechnik OFM, Heidenhofstr. 8, 79110 Freiburg,

Published Online: 2012-11-06
Published in Print: 2012-11

© by Oldenbourg Wissenschaftsverlag, München, Germany

Downloaded on 7.12.2022 from frontend.live.degruyter.dgbricks.com/document/doi/10.1524/teme.2012.0270/html
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