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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by Oldenbourg Wissenschaftsverlag September 25, 2009

Formvermessung an bewegten technischen Oberflächen mittels der Speckle-Interferometrie (Contouring of Moving Technical Surfaces via Speckle-Interferometry)

Contouring of Moving Technical Surfaces via Speckle-Interferometry
Andreas Meixner, Thomas Zeh, M. Riemenschneider, A. Purde and Alexander W. Koch
From the journal tm - Technisches Messen

Abstract

Ständig steigende Anforderungen an die Qualitätsprüfung in der industriellen Fertigung erfordern neue Verfahren zur schnellen und zerstörungsfreien Oberflächenprüfung. Für die Formvermessung technischer Oberflächen bietet sich hierfür die Zwei-Wellenlängen-Technik der Speckle-Interferometrie an. Die bisher sehr hohe Störempfindlichkeit interferometrischer Messungen auf erschütterungsbedingte Bewegungen des Messobjektes sowie eine lange Rechenzeit zur Auswertung der Interferogramme ließen eine industrielle Anwendung kaum zu. Ein neu konzipierter Interferometeraufbau wird vorgestellt, der mittels zweier räumlich getrennter Kameras die simultane Aufzeichnung aller für die interferometrische Formvermessung notwendigen Daten und somit auch die Messung an bewegten Objekten erlaubt. Eine am Datenfluss orientierte, hardwarebasierte Auswertung mit FPGAs (Field Programmable Gate Arrays) ermöglicht die Online-Auswertung mit einer hohen Bildrate, wodurch der Aufbau als Messeinrichtung für den industriellen Einsatz attraktiv wird.

Abstract

Growing demands on quality inspection in industrial manufacturing require new methods for fast and non-destructive surface inspection. For surface contouring the speckle interferometry provides the two-wavelength technique. So far both the enormous susceptibility of interferometric measurements to any movements of the measurement object and the long calculation time for evaluating the interferograms hardly permitted any industrial applications. A new kind of setup is presented which is capable of simultaneously recording all data necessary for interferometric contour measurement using a system of two spatially separated cameras. Thus measurements of moving objects become possible. A data flow and hardware based evaluation of the interferograms with FPGAs (Field Programmable Gate Arrays) enables a high frame rate whereby the device becomes attractive for industrial applications.

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Published Online: 2009-09-25
Published in Print: 2003-02-01

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