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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by De Gruyter May 22, 2020

KI-gestützte Prozessüberwachung in der Zerspanung

KI-supported Process Monitoring in Machining
  • Berend Denkena , Benjamin Bergmann , Svenja Reimer , Alexander Schmidt , Tobias Stiehl and Matthias Witt

Kurzfassung

Die nicht erst seit Industrie 4.0 zunehmende Digitalisierung und Vernetzung bietet das Potenzial, die zusätzlich erhobenen Prozessdaten zur Entwicklung neuartiger Prozessüberwachungssysteme zu nutzen. Am Institut für Fertigungstechnik und Werkzeugmaschinen der Leibniz Universität Hannover (IFW) wird intensiv an der Verwendung von KI-basierten Systemen geforscht, um die Prozesssicherheit und Produktivität weiter zu steigern.

Abstract

The continuously increasing digitalization caused by Industry 4.0 offers the potential to use the additionally collected process data for the development of new types of process monitoring systems. At the Institute of Production Engineering and Machine Tools, Leibniz University Hannover (IFW), intensive research is being performed on the use of AI-based systems in order to continuously improve process reliability and productivity.


Prof. Dr.-Ing. Berend Denkena, geb. 1959, studierte und promovierte an der Leibniz Universität Hannover im Bereich Maschinenbau. Seit 2001 leitet er das Institut für Fertigungstechnik und Werkzeugmaschinen (IFW) der Leibniz Universität Hannover.

Dr.-Ing. Benjamin Bergmann, M. Sc. Svenja Reimer, Dipl.-Ing. Alexander Schmidt, Dipl.-Ing. Tobias Stiehl und Dipl.-Ing. Matthias Witt sind Mitarbeiter/innen am Institut für Fertigungstechnik und Werkzeugmaschinen (IFW) der Leibniz Universität Hannover.


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Online erschienen: 2020-05-22
Erschienen im Druck: 2020-05-28

© 2020, Carl Hanser Verlag, München

Downloaded on 24.9.2023 from https://www.degruyter.com/document/doi/10.3139/104.112282/html
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