Accessible Requires Authentication Published by De Gruyter May 26, 2013

Spezielle röntgenographische Mikrobeugung

Teil 2: Die Röntgen-Drehschwenk-Technik

X-ray Micro Diffraction – Part 2: X-ray Rotation-Tilt Method
Jürgen Bauch, Hans-Jürgen Ullrich and Marian Böhling
From the journal Materials Testing

Kurzfassung

Es gibt weltweite Anstrengungen, Mikrobereiche kompakter Proben mittels Röntgenmikrobeugungsverfahren („X-ray Microdiffraction“) zu untersuchen. Die synchrotron- bzw. elektronenstrahlangeregte KOSSEL-Technik (Teil 1) und die neu entwickelte Röntgen-Drehschwenk-Technik (Teil 2) werden als spezielle röntgenographische Verfahren vorgestellt und hinsichtlich ihrer Einsatzmöglichkeiten und Grenzen verglichen. Ausgehend vom Funktionsprinzip der neuen Röntgen-Drehschwenk-Technik werden ausgewählte Anwendungen im Mikrobereich beschrieben. Eine vergleichende Betrachtung zur KOSSEL-Technik ergänzt die Darstellung.

Summary

There are world-wide efforts to analyse micro regions of compact samples by means of X-ray diffraction (“X-ray Micro Diffraction”). Two micro diffraction procedures, the KOSSEL technique (part 1) excited by electron or synchrotron radiation beams and the new X-ray Rotation-Tilt Method (part 2), are compared to show their possibilities and limitations. This techniques can be applied to a wide range of analytical problems in materials diagnostics, e.g.: high-accuracy determination of crystallographic orientations, dislocation density determination, determination of decrease in symmetry, high-accuracy determination of lattice constants, precision determination of residual stresses of the second and the third kind as well as phase identification in micro regions. Some selected examples are presented. A comparison to the KOSSEL technique is also included.


Priv.-Doz. Dr.-Ing. habil. Jürgen Bauch, Jahrgang 1956, studierte an der TU Dresden Informationstechnik (Bauelemente und Systeme) und schloss sein Studium 1982 als Diplomingenieur ab. Danach wechselte er in die Werkstoffwissenschaft. Nach der Promotion 1986 und der Habilitation 2002 erhielt er 2003 die Lehrbefugnis und wurde zum Privatdozenten für „Physikalische Werkstoffdiagnostik“ ernannt. Gegenwärtig leitet er das „Röntgenographische Speziallabor“ des Institutes für Werkstoffwissenschaft der TU Dresden.

Prof. Dr. rer. nat. habil. Hans-Jürgen Ullrich, Jahrgang 1938, studierte an der TU Dresden Physik und schloss sein Studium 1961 als Diplomphysiker (Spezialgebiet Röntgen- und Metallphysik) ab. Nach der Promotion 1967 und der Habilitation 1975 wurde er 1980 als Professor für Werkstoffdiagnostik an das Institut für Werkstoffwissenschaft der TU Dresden berufen. 1996, 1998 und 2002 wirkte er als Gastprofessor an der TU Wien. Seit 1.4. 2003 befindet er sich im Ruhestand.

Dipl.-Ing. Marian Böhling, Jahrgang 1969, studierte an der TU Dresden Werkstoffwissenschaft und schloss sein Studium 2000 als Diplomingenieur ab. Gegenwärtig arbeitet er als wissenschaftlicher Mitarbeiter im „Röntgenographischen Speziallabor“ des Institutes für Werkstoffwissenschaft der TU Dresden.


Literatur

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Online erschienen: 2013-05-26
Erschienen im Druck: 2004-03-01

© 2004, Carl Hanser Verlag, München