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Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by De Gruyter May 26, 2013

Oberflächenprüfungen automatisieren

Optoelektronische Auswertungen bei Oberflächenprüfungen

Optoelectronic Analysis for Surface Testing – Automation of Surface Testing
  • Thomas Vetterlein , Rolf M. Annighöfer , Michael Wagner , Heinz Rougen and Horst Hallingen
From the journal Materials Testing

Kurzfassung

Die Magnetpulverprüfung ist eine der empfindlichsten zerstörungsfreien Prüfungsmethoden, um Oberflächenfehler, wie beispielsweise Risse, an ferromagnetischen Werkstoffen nachzuweisen. Auf Grund der geringen technischen Anforderungen an die Prüfung, die außerdem vollkommen abhängig von der Qualifikation des Inspektors war, wurde sie jahrelang als die „Aschenputtel“-Methode betrachtet. In den vergangenen sieben bis acht Jahren wurde eine Technologie entwickelt, die die Realisierung von vollautomatischen Risserkennungsgeräten erlaubt. Solche Geräte setzen bereits Automobilteilehersteller zahlreicher Länder ein. Diese Technologie ermöglicht es, mit der Magnetpulverprüfung dasselbe Niveau bei der Qualitätsprüfung, Automatisierung und Reproduzierbarkeit zu erreichen wie mit jedem modernen Wirbelstrom- oder Ultraschallprüfgerät.

Abstract

Magnetic particle testing is one of the most sensitive non-destructive methods for the detection of surface discontinuities like cracks in ferromagnetic materials. In fact, there is the critical consideration of the operator's ability to qualitatively and quantitatively evaluate the results of the inspection. Therefore evaluation procedures have been developed and integrated into NDT equipment over the past few years allowing a fully automated detection of cracks. This technology has been applied in automobile industry. It provides repeatability and high standards in quality assurance as known from eddy current or ultrasonic inspection. The realization of an automated magnetic particle NDT system requires an online monitoring of the complete inspection procedure. Such system includes hardware components that control the inspection process as well as an optical system that detects and reports surface cracks reliably.


Dipl.-Phys. Thomas Vetterlein, Jahrgang 1960, studierte an der Universität Frankfurt Physik und war danach einige Jahre im Frauenhofer Institut f. Zerstörungsfreie Prüfung in der Forschung tätig. Seit 1998 ist er bei der Firma Tiede GmbH & Co. in Essingen als Technischer Direktor zuständig für Neuentwicklungen und den Bereich Optoelektronik.

Dipl.-Ing. Rolf M. Annighöfer, Jahrgang 1949, studierte von 1972 bis 1974 Maschinenbauingenieurwesen. Seit 2002 ist er als Geschäftsführer der Firma Tiede GmbH & Co. in Essingen tätig.

Michael Wagner, Jahrgang 1962, absolvier-te von 1983 bis 1986 eine Ausbildung zum Mathematisch-Technischen Assistenten im Forschungszentrum Jülich. Seit 1986 arbeitet er als Programmierer im wissenschaftlichen Bereich im Forschungszentrum Jülich und ist außerdem als Ausbildungsbegleiter tätig.

Dipl.-Ing. Heinz Rougen, Jahrgang 1962, studierte von 1983 bis 1986 Elektrotechnik und ist momentan als Gruppenleiter im Zentrallabor für Elektronik im Forschungszentrum Jülich tätig.

Prof. Dr. Horst Hallingen, Jahrgang 1940, studierte von 1958 bis 1963 an der Technischen Hochschule Wien und ist seit 1996 als Institutsleiter am Zentralinstitut für Elektronik, Forschungszentrum Jülich, tätig.


Literatur

1 Vollautomatische ASTM-Birne: DE-Patent 4438510. 2 Stromüberwachungs-System: DE-Patent P3602395.7-52, Europäisches Patent 0231004 UV-Intensitätsüberwachung: DE-Patent 4013133.5, Europäisches Patent 531557Search in Google Scholar

Online erschienen: 2013-05-26
Erschienen im Druck: 2004-06-01

© 2004, Carl Hanser Verlag, München

Downloaded on 28.3.2024 from https://www.degruyter.com/document/doi/10.3139/120.100594/html
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