Skip to content
Licensed Unlicensed Requires Authentication Published by De Gruyter August 6, 2009

Modellierung der Transporteigenschaften von Si,C-Widerständen für elektronische Implantate auf der Basis einer mikroskopischen Materialanalyse

  • H. Krätschmer , S. Eck , A. Bolz and M. Schaldach
Online erschienen: 2009-08-06
Erschienen im Druck: 1997

Walter de Gruyter

Downloaded on 28.3.2024 from https://www.degruyter.com/document/doi/10.1515/bmte.1997.42.s2.117/html
Scroll to top button