Krätschmer, H., Eck, S., Bolz, A. and Schaldach, M.. "Modellierung der Transporteigenschaften von Si,C-Widerständen für elektronische Implantate auf der Basis einer mikroskopischen Materialanalyse"
Biomedical Engineering / Biomedizinische Technik , vol. 42, no. s2, 1997, pp. 117-118.
https://doi.org/10.1515/bmte.1997.42.s2.117
Krätschmer, H., Eck, S., Bolz, A. & Schaldach, M. (1997). Modellierung der Transporteigenschaften von Si,C-Widerständen für elektronische Implantate auf der Basis einer mikroskopischen Materialanalyse.
Biomedical Engineering / Biomedizinische Technik ,
42(s2), 117-118.
https://doi.org/10.1515/bmte.1997.42.s2.117
Krätschmer, H., Eck, S., Bolz, A. and Schaldach, M. (1997) Modellierung der Transporteigenschaften von Si,C-Widerständen für elektronische Implantate auf der Basis einer mikroskopischen Materialanalyse. Biomedical Engineering / Biomedizinische Technik, Vol. 42 (Issue s2), pp. 117-118.
https://doi.org/10.1515/bmte.1997.42.s2.117
Krätschmer, H., Eck, S., Bolz, A. and Schaldach, M.. "Modellierung der Transporteigenschaften von Si,C-Widerständen für elektronische Implantate auf der Basis einer mikroskopischen Materialanalyse"
Biomedical Engineering / Biomedizinische Technik 42, no. s2 (1997): 117-118.
https://doi.org/10.1515/bmte.1997.42.s2.117
Krätschmer H, Eck S, Bolz A, Schaldach M. Modellierung der Transporteigenschaften von Si,C-Widerständen für elektronische Implantate auf der Basis einer mikroskopischen Materialanalyse.
Biomedical Engineering / Biomedizinische Technik . 1997;42(s2): 117-118.
https://doi.org/10.1515/bmte.1997.42.s2.117
Copied to clipboard