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it - Information Technology

Methods and Applications of Informatics and Information Technology

Editor-in-Chief: Conrad, Stefan / Molitor, Paul

6 Issues per year

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ISSN
2196-7032
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Volume 52, Issue 4

Issues

Fault Models and Test Algorithms for Nanoscale Technologies

Ilia Polian / Bernd Becker
Published Online: 2010-07-26 | DOI: https://doi.org/10.1524/itit.2010.0590

Abstract

In the age of Nanoscale Integration (NSI), state-of-the-art integrated circuits with gate length under 100 nm consist of hundreds of millions of transistors. This implies new challenges for their reliability. Novel NSI defect mechanisms require special test methods to sort out faulty chips. We present modeling approaches and efficient test algorithms for fundamental NSI defect mechanisms enabling the handling of industrial multi-million-gate circuits.

Zusammenfassung

Im Zeitalter der Nanoscale Integration (NSI) ist die Massenfertigung von integrierten Schaltungen (ICs) mit einer Strukturgröße unter 100 nm und hunderten Millionen von Transistoren möglich. Dies geht mit neuen Herausforderungen im Bereich der Zuverlässigkeit einher. Neuartige NSI-Defektmechanismen erfordern spezielle Testmethoden, um fehlerhafte ICs zu identifizieren. Wir stellen Modellierungsansätze und effiziente Testverfahren für grundlegende NSI-Defektmechanismen vor, die eine Anwendung auf industrielle Schaltungen mit mehreren Millionen Gattern möglich machen.

Keywords: test; diagnosis; defect-based test; fault models; electronic design automation

About the article

* Correspondence address: Universität Passau, Lehrstuhl für Technische Informatik, Innstr. 43, 94032 Passau, Deutschland,


Published Online: 2010-07-26

Published in Print: 2010-08-01


Citation Information: it - Information Technology Methoden und innovative Anwendungen der Informatik und Informationstechnik, Volume 52, Issue 4, Pages 189–194, ISSN (Print) 1611-2776, DOI: https://doi.org/10.1524/itit.2010.0590.

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