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tm - Technisches Messen

Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik

[TM - Technical Measurement: A Platform for Methods, Systems, and Applications of Measurement Technology
]

Editor-in-Chief: Puente León, Fernando / Zagar, Bernhard


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2196-7113
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Scherografie – die Umsetzung des Prinzips in ein mobiles Prüfsystem (Shearography – the Implementation of the Principle into a Mobile Inspection System)

M. Kalms / Wolfgang Osten / Werner Jüptner
Published Online: 2009-09-25 | DOI: https://doi.org/10.1524/teme.2002.69.5.217

Moderne optische Messtechniken wie die Speckle-Scherografie finden sowohl aufgrund ihrer hohen Messempfindlichkeit und Genauigkeit als auch insbesondere wegen ihrer Rückwirkungs- und Zerstörungsfreiheit gegenüber dem Messobjekt wachsendes Interesse nicht nur im Rahmen von Laboruntersuchungen, sondern zunehmend auch im industriellen Umfeld. Optische Sensoren übernehmen bereits heute in den verschiedensten Varianten unentbehrliche Aufgaben an wichtigen Stellen des Produktentstehungsprozesses. In diesem Artikel wird ein komplettes scherografisches Messsystem vorgestellt, das erfolgreich bei der Inspektion von großflächigen Flugzeugkomponenten und Kunstobjekten im Hinblick auf verdeckte Materialfehler, Produktionsmängel und Strukturschwächen eingesetzt wurde.

Modern optical methods such as speckle shearography have attracted interest not only for laboratory investigations but also for applications on the factory floor because they can be sensitive, accurate, non-tactile and non-destructive. Optical inspection and measurement systems are more and more used in the entire manufacturing process. In this paper a complete measurement system on the basis of digital speckle-shearography is described. The system was successfully tested for the inspection of large-scale aircraft components and artworks with respect to material faults and production defects.

About the article

Published Online: 2009-09-25

Published in Print: 2002-05-01


Citation Information: tm – Technisches Messen Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik, Volume 69, Issue 5/2002, Pages 217–, ISSN (Print) 0171-8096, DOI: https://doi.org/10.1524/teme.2002.69.5.217.

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[2]
Marcello Manfredi, Greg Bearman, Greg Williamson, Dale Kronkright, Eric Doehne, Megan Jacobs, and Emilio Marengo
Sensors, 2014, Volume 14, Number 7, Page 12271
[3]
Wolfgang Osten
Optical Engineering, 2003, Volume 42, Number 5, Page 1188

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