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tm - Technisches Messen

Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik

[TM - Technical Measurement: A Platform for Methods, Systems, and Applications of Measurement Technology
]

Editor-in-Chief: Puente León, Fernando / Zagar, Bernhard


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2196-7113
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Detektion und Analyse von Materialfehlern nach dem Prinzip „Erkennung durch Synthese” (Detection and Analysis of Material Faults using the Principle “Recognition by Synthesis”)

F. Elandaloussi / Wolfgang Osten / Werner Jüptner
Published Online: 2009-09-25 | DOI: https://doi.org/10.1524/teme.2002.69.5.227

Die zerstörungsfreie Bauteilprüfung mittels holografischer Interferometrie (HNDT) gehört zu den modernen kohärent-optischen Mess- und Prüftechniken und erlaubt großflächige, berührungslose und hochgenaue Messungen von dreidimensionalen Oberflächenverschiebungen an technischen Objekten. Das hier vorgestellte neue Verfahren hat die Zielstellung, das vorhandene Wissen über den Musterentstehungsprozess mit den Möglichkeiten moderner Berechnungsverfahren der experimentellen Festkörpermechanik über einen iterativen Bildsynthese- und Erkennungsprozess zu kombinieren. Auf diesem Wege wird sowohl eine verbesserte Klassifikation von Fehlern unter der Oberfläche als auch eine Parametrisierung des Fehlers hinsichtlich Lage und Ausdehnung erzielt. Charakteristisch für das Verfahren ist weiterhin eine aktive Belastungsartänderung, um dem Mangel an Wissen bei der Lösung des inversen Problems begegnen zu können.

In quality control non-destructive techniques gain more and more importance. Holographic interferometry has advantage of being very sensitive and non-tactile for the inspection of technical components. The interferogram fringes contain information about the surface deformation of the part which is subjected to the load. The automation of this procedure raises several problems due to a bad discrimination of the classes of flaws. This paper describes a new method to improve the recognition and classification of fault indicating patterns by means of the synthesis of the interferograms, the comparison with the real pattern, and the modification of the simulation strategy with respect to the classification of the flaw. The detection and characterization of the flaw is an ill-posed problem. For solving this problem it is necessary to gather as much information about the object under test as possible. Therefore an active strategy is implemented taking into account the loading process as an important element within the recognition process.

About the article

Published Online: 2009-09-25

Published in Print: 2002-05-01


Citation Information: tm – Technisches Messen Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik, Volume 69, Issue 5/2002, Pages 227–, ISSN (Print) 0171-8096, DOI: https://doi.org/10.1524/teme.2002.69.5.227.

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[1]
D. Buchta, C. Heinemann, G. Pedrini, C. Krekel, and W. Osten
Strain, 2018, Page e12269

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