Jump to ContentJump to Main Navigation
Show Summary Details
More options …

tm - Technisches Messen

Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik

[TM - Technical Measurement: A Platform for Methods, Systems, and Applications of Measurement Technology
]

Editor-in-Chief: Puente León, Fernando / Zagar, Bernhard

12 Issues per year


IMPACT FACTOR 2017: 0.476

CiteScore 2017: 0.46

SCImago Journal Rank (SJR) 2017: 0.239
Source Normalized Impact per Paper (SNIP) 2017: 0.566

Online
ISSN
2196-7113
See all formats and pricing
More options …
Volume 78, Issue 12

Issues

Einsatz der Röntgenfluoreszenz-analyse in der Prozessanalytik

Markus Ostermann / A. Kühn / A. Bjeoumikhov / R. Wedell
Published Online: 2011-12-01 | DOI: https://doi.org/10.1524/teme.2011.0162

Zusammenfassung

Elementanalyse mit Röntgenfluoreszenzspektrometrie direkt am Materialstrom in Produktionsprozessen gewinnt zunehmend an Bedeutung. Die Röntgenfluoreszenzspektrometrie kann aufgrund der technischen Entwicklung mittlerweile ohne aufwändige Probenvorbereitung als aussagekräftige Informationsquelle für Stoffparameter im industriellen Prozess eingesetzt werden. Der Einsatz von online Röntgenfluoreszenzanalyse zahlt sich sowohl finanziell als auch zeitlich schnell aus, da sie sowohl für den ökonomischen Einsatz von Rohmaterialien, als auch z. B. im Materialrecycling zu gebrauchen ist. In diesem Beitrag werden vier unterschiedliche Einsatzmöglichkeiten beschrieben.

Zusammenfassung

Elemental analysis directly at the material stream of production processes using X-ray fluorescence spectrometry is gathering importance. Thanks to technical developments, X-ray fluorescence analysis can be used as information source in the elemental analysis of material in industrial processes without tedious sample preparation steps. The employment of online X-ray fluorescence analysis pays off both in financial as well in time aspects, since it can be used for the economic application of raw materials or e. g. for recycling. This paper describes four different applications of X-ray fluorescence spectroscopy.

Keywords: x-ray fluorescence spectrometry; elemental analysis; material analysis

About the article

* Correspondence address: BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Richard-Willstätter-Str. 11, 12489 Berlin,


Published Online: 2011-12-01

Published in Print: 2011-12-01


Citation Information: tm - Technisches Messen Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik, Volume 78, Issue 12, Pages 559–568, ISSN (Print) 0171-8096, DOI: https://doi.org/10.1524/teme.2011.0162.

Export Citation

© by Oldenbourg Wissenschaftsverlag, Berlin, Germany.Get Permission

Citing Articles

Here you can find all Crossref-listed publications in which this article is cited. If you would like to receive automatic email messages as soon as this article is cited in other publications, simply activate the “Citation Alert” on the top of this page.

[1]
Margaret West, Andrew T. Ellis, Philip J. Potts, Christina Streli, Christine Vanhoof, Dariusz Wegrzynek, and Peter Wobrauschek
Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 2013, Volume 28, Number 10, Page 1544
[2]
Michael Maiwald, Wolfram Bremser, Markus Ostermann, Andrea Paul, and Nicolai Zientek
Nachrichten aus der Chemie, 2013, Volume 61, Number 2, Page 149

Comments (0)

Please log in or register to comment.
Log in